工作内容:
1、协调测试资源,完成SiC MOSFET芯片CP测试; 2、封装后器件或模块静态/动态特性和可靠性考核测试; 3、分析总结测试数据,反馈芯片良率、坏点分布规律,提出一定的芯片设计/封装改进建议。
任职要求:
1、熟悉SiC功率器件基本特性测试,可靠性考核方法,有2年以上测试分析经验的优先。
投递邮箱:郑女士:shiyin_zheng@junlink.com.cn 李先生:yang_li@junlink.com.cn